• Aufrechte Laborversuch-Ausrüstungs-horizontales metallografisches Mikroskop für IC-Komponenten
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Aufrechte Laborversuch-Ausrüstungs-horizontales metallografisches Mikroskop für IC-Komponenten

Aufrechte Laborversuch-Ausrüstungs-horizontales metallografisches Mikroskop für IC-Komponenten

Produktdetails:

Herkunftsort: China
Markenname: Asida
Modellnummer: JX22

Zahlung und Versand AGB:

Min Bestellmenge: 1 Satz/Sätze
Preis: Negotiation
Verpackung Informationen: Hölzerne Karton
Lieferzeit: Verhandlung
Zahlungsbedingungen: T/T
Versorgungsmaterial-Fähigkeit: Verhandlung
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Detailinformationen

Produktname: Metallografisches Mikroskop Hauptteil: aufrecht
Augenlinse (breite Ansicht): 10×
Markieren:

Laborprüfmaschine

,

Laborprüfmaschine

Produkt-Beschreibung

Metallografisches Mikroskop/wandelte horizontales metallografisches Mikroskop für IC Komponenten und Microsections um

Produkteigenschaften:

Produktname

Metallografisches Mikroskop

Markenname

ASIDA

Modellnummer

JX22

Ursprungsort

China

Verpackendetails

Hölzerner Karton

Metallografische Mikroskop VERWENDUNG

Metallografisches Mikroskop ASIDA wird im Maß und in der Analyse von Kleingröße Gegenständen wie IC-Komponenten und -microsections benutzt.

Metallografisches Mikroskop CHRACTERISTIC

Software 1.The wird initiatively entwickelt, also können wir seine Funktion besonders anfertigen.

Strahlengang 2.Optimize, zum von besten Darstellungseffekten sicherzustellen.

Software 3.The ist bedienungsfreundlich. Es ist einfach, genaues Maß und Analyse über Punkt-zu-Punkt-, Phasen zu erzielen, Bogen, Radius, Durchmesser, Winkel und andere in Verbindung stehende Maße.

4.It ist einfach, Fotos zu machen, auf ihnen zu messen und sie zu speichern.

Metallografische Parameter des Mikroskop-JX22/JX23:

EINZELTEIL

JX22

Hauptteil

Aufrecht

Optionale lineare Wiedergabe

50×~600×

Elektronische lineare Wiedergabe

90×~1150×

Augenlinse (breite Ansicht)

10×

Feldlinse (achromatisch)

5×, 10×,

40×, 60×

Beleuchtungssystem

Tropfen, der 6V30W, justierbares Halogen beleuchtet

Helligkeit mit Wirkung von Polarisator

CCD-Modell

WD-300C

CD-Kamera

megapixel

Genauigkeit

±0.0006mm

Aufrechte Laborversuch-Ausrüstungs-horizontales metallografisches Mikroskop für IC-Komponenten 0Aufrechte Laborversuch-Ausrüstungs-horizontales metallografisches Mikroskop für IC-Komponenten 1

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